余浩群 2006年進(jìn)入億博檢測技術(shù)有限公司，擔(dān)任高級技術(shù)顧問。
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涂/鍍層失效分析
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基本介紹
隨著生產(chǎn)和科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，涂/鍍層材料逐步出現(xiàn)在人們的視野并且迅速發(fā)展并遍布于我們生活。總的來說，今后對涂/鍍層材料技術(shù)總的發(fā)展趨勢是高性能化、高功能化、智能化和綠色化等。因?yàn)榧夹g(shù)的全新要求和產(chǎn)品的高要求化，而客戶對高要求產(chǎn)品及工藝?yán)斫獠灰唬谑峭?鍍層材料分層、開裂、腐蝕、變色等之類失效頻繁出現(xiàn)，常引起供應(yīng)商與用戶間的責(zé)任糾紛，所以導(dǎo)致了嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。通過失效分析一系列分析驗(yàn)證手段，可以查找其失效的根本原因及機(jī)理，其在提高產(chǎn)品質(zhì)量、工藝改進(jìn)及責(zé)任仲裁等方面具有重要意義。
服務(wù)對象
涂/鍍層材料生產(chǎn)廠商：明確其產(chǎn)品質(zhì)量問題，并深入產(chǎn)品失效產(chǎn)生可能原因的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、工藝、儲存、運(yùn)輸?shù)入A段，深究失效的根本原因及機(jī)理，為提升產(chǎn)品良率及優(yōu)化生產(chǎn)工藝方面提供依據(jù)。
經(jīng)銷商或代理商：控制來料品質(zhì)，為品質(zhì)責(zé)任提供有利證據(jù)。
整機(jī)用戶：及時(shí)跟進(jìn)產(chǎn)品可靠性，提高產(chǎn)品核心競爭力。
經(jīng)銷商或代理商：控制來料品質(zhì)，為品質(zhì)責(zé)任提供有利證據(jù)。
整機(jī)用戶：及時(shí)跟進(jìn)產(chǎn)品可靠性，提高產(chǎn)品核心競爭力。
產(chǎn)生效益
1）有效的協(xié)助生產(chǎn)商及經(jīng)銷商等客戶及時(shí)了解產(chǎn)品質(zhì)量，對其產(chǎn)品可靠性提出建議，提升產(chǎn)品良率及可靠性，提升產(chǎn)品競爭力；
2）通過失效分析可查找產(chǎn)品失效的根本原因，提供產(chǎn)品及工藝改進(jìn)意見；
3）明確引起涂/鍍層產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。
2）通過失效分析可查找產(chǎn)品失效的根本原因，提供產(chǎn)品及工藝改進(jìn)意見；
3）明確引起涂/鍍層產(chǎn)品失效的責(zé)任方，為司法仲裁提供依據(jù)。
主要失效模式
分層、開裂、腐蝕、起泡、涂/鍍層脫落、變色失效等。
常用失效分析技術(shù)手段
材料成分分析方面：
傅立葉變換顯微紅外光譜分析（FTIR）
顯微共焦拉曼光譜儀（Raman）
掃描電鏡及能譜分析（SEM/EDS）
X射線熒光光譜分析（XRF）
氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）
裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（PGC-MS）
核磁共振分析（NMR）
俄歇電子能譜分析（AES）
X射線光電子能譜分析（XPS）
X射線衍射儀（XRD）
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）
材料熱分析方面：
差示掃描量熱法（DSC）
熱重分析（TGA）
熱機(jī)械分析（TMA）
動態(tài)熱機(jī)械分析（DMA）
材料斷口分析方面：
體式顯微鏡（OM）
掃描電鏡分析（SEM）
材料物理性能測試：
拉伸強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度等
傅立葉變換顯微紅外光譜分析（FTIR）
顯微共焦拉曼光譜儀（Raman）
掃描電鏡及能譜分析（SEM/EDS）
X射線熒光光譜分析（XRF）
氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀（GC-MS）
裂解氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（PGC-MS）
核磁共振分析（NMR）
俄歇電子能譜分析（AES）
X射線光電子能譜分析（XPS）
X射線衍射儀（XRD）
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）
材料熱分析方面：
差示掃描量熱法（DSC）
熱重分析（TGA）
熱機(jī)械分析（TMA）
動態(tài)熱機(jī)械分析（DMA）
材料斷口分析方面：
體式顯微鏡（OM）
掃描電鏡分析（SEM）
材料物理性能測試：
拉伸強(qiáng)度、彎曲強(qiáng)度等
億博檢測高級技術(shù)顧問certified engineer
